掃描電鏡(SEM)實(shí)驗(yàn)服務(wù)

使用說(shuō)明書(shū)

僅供體外研究使用，不用于臨床診斷!

第1版（2016年04月修訂）

掃描電子顯微鏡（Scanning Electron Microscope ,SEM），它具有制樣簡(jiǎn)單、放大倍數(shù)可調(diào)范圍寬、圖像的分辨率高、景深大等特點(diǎn)。近年來(lái)，掃描電鏡已廣泛地應(yīng)用在生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、等學(xué)科的領(lǐng)域中。掃描電鏡的電子束不穿過(guò)樣品，僅在樣品表面掃描激發(fā)出二次電子。獲得圖像為立體形象，反映標(biāo)本的表面結(jié)構(gòu)。因此掃描電鏡標(biāo)本無(wú)需制成薄片。掃描電鏡最基本的功能是對(duì)各種固體樣品表面進(jìn)行高分辨形貌觀察。大景深圖像是掃描電鏡觀察的特色，觀察可以是一個(gè)樣品的表面，也可以是一個(gè)切開(kāi)的面，或是一個(gè)斷面。